1. 電路元件伏安特性的測繪誤差來源
伏安法測試電阻值的誤差主要在于電壓表和電流表其實不可能是理想的.
引起誤差的另一個原因是連接方法.
用伏安法測電阻有兩種基本的線路：電流表內接和電流表外接.
設待測電阻為R,其上電壓為UR,通過它的電流為IR；電壓表電阻為RV,其上電壓為UV,通過它的電流為IV；電流表電阻為RA,其上電壓為UA,通過它的電流為IA.
在電流表內接電路中,UA＝UR＋UA,IA＝IR,測量誤差的來源在于電壓表讀數大于R兩端的電壓,由R＝UV／IA計算出的阻值比真實值偏大.當R>>RA時,U>>UA,即U≈UV,測量結果不致引起太大的誤差.
2. 電學元件伏安特性的測量誤差
誤差產生的原因：
1、當安培表內接時伏特表測量的是待測電阻和安培表串聯的總電壓，因為安培表分壓，導致測量結果偏大。
2、當安培表外接時安培表測量的是待測電阻和伏特表并聯的總電流，因為伏特表分流，導致測量結果偏小。
3、溫度影響，使得電阻的電阻率隨溫度升高而增大。
4、測量者讀取電流、電壓值時出現偶然誤差。
3. 電路元件伏安特性測繪結論
電子元件兩端電壓及流過電子元件的電流之間的關系曲線,主要對電子元件的性能研究及應用有一定的意義
4. 元件特性的伏安測量法誤差分析
伏安法測電阻誤差產生的原因：
1、當安培表內接時伏特表測量的是待測電阻和安培表串聯的總電壓，因為安培表分壓，導致測量結果偏大。
2、當安培表外接時安培表測量的是待測電阻和伏特表并聯的總電流，因為伏特表分流，導致測量結果偏小。
3、溫度影響，使得電阻的電阻率隨溫度升高而增大。
4、測量者讀取電流、電壓值時出現偶然誤差。
5. 電路元件伏安特性的測繪誤差來源于
光敏電阻伏安特性是指在一定的光照下，加在光敏電阻兩端的電壓和光電流之間的關系。伏安特性曲線在外加電壓一定時，光電流的大小隨光照的增強而增加。
在使用時光敏電阻受耗散功率的限制，其兩端的電壓不能超過最高工作電壓，虛線為允許功耗曲線，由它可以確定光敏電阻的正常工作電壓。
6. 電路元件伏安特性的測繪的誤差分析
電流表的結構是內部電阻非常小，它接入電路，內部的電阻也會分壓。正是由于電壓表的分流，電流表的分壓，所以伏安法測電阻時，就不可避免的出現了誤差。
1、在電流表外接方案中，產生誤差的主要原因是電壓表的分流。由于電壓表的分流，電流表測出的電流是大于實際通過RX的電流。將電壓表、電流表的數值代入公式R=U/I進行計算時，由于電流I偏大，所以測量結果是電阻R偏小。
2、在電流表內接方案中，產生誤差的主要原因是電流表的分壓。由于電流表的分壓，電壓表測出的電壓是大于RX兩端的實際電壓的。將電壓表、電流表的數值代入公式R=U/I進行計算時，由于電壓U偏大，所以測量結果是電阻R偏大。
7. 電路元件伏安特性的測繪誤差來源有哪些
1、當安培表內接時伏特表測量的是待測電阻和安培表串聯的總電壓，因為安培表分壓，導致測量結果偏大。
2、當安培表外接時安培表測量的是待測電阻和伏特表并聯的總電流，因為伏特表分流，導致測量結果偏小。
3、溫度影響，使得電阻的電阻率隨溫度升高而增大。
4、測量者讀取電流、電壓值時出現偶然誤差。
8. 電路原件伏安特性的測繪實驗誤差分析
實驗操作時會使試驗溫度發生改變，影響實驗結果。
數字式電壓表的示數不穩定也會產生誤差。
在U1-T實驗中，U2的示數不能一直指在1V上，也會產生誤差。
實驗操作時會使試驗溫度發生改變，影響實驗結果。 數字式電壓表的示數不穩定也會產生誤差。 在U1-T實驗中，U2的示數不能一直指在1V上，也會產生誤差。
9. 電子元件的伏安特性的測繪及電源外特性的測量
光照特性指光敏電阻輸出的電信號隨光照度而變化的特性。隨著的光照強度的增加，光敏電阻的阻值開始迅速下降。若進一步增大光照強度，則電阻值變化減小，然后逐漸趨向平緩。在大多數情況下，該特性為非線性。
10. 電路原件伏安特性的測繪結論
測量伏安特性基本的方法就是一只電壓表和一只電流表，加上電源和變阻器。對線性元件和非線性元件都適用。
